Reed Relais als zentrale Komponente in integrierten Schaltkreisen

Einführung

Entwickler von Chips entwerfen immer kleinere und schnellere integrierte Schaltkreise mit Schaltausgängen/Chip in Millionenhöhe.  Es ist besonders wichtig, dass die zuverlässige Funktion dieser Ausgänge getestet wird. Hochwertige Testgeräte wurden dafür entwickelt, die Chips ohne Unterbrechung 24 Stunden/Tag zu testen, und da es dabei eine so große Anzahl von Ausgängen zu testen gilt, ist Geschwindigkeit von großer Bedeutung. Damit alle Punkte isoliert sind, und der Tester schnelle Impulse tragen kann, müssen Schalter in den Tester eingebaut werden. Durch diese Piko-Sekunden schnellen Impulse werden Millionen von Informationen pro Sekunde übertragen. Daher müssen die für den Tester verwendeten Schalter sorgfältig ausgewählt werden, damit sie diese schnellen Impulse auch wirklich ohne Verzerrungen schalten und tragen können, und dies über Schaltvorgänge in Millionenhöhe. Entwickler dieser Testgeräte halten MEDERs Reed Relais  im Ultra-Mini-Design für besonders geeignet.

Reed Relais  im Ultra-Mini-Design für besonders geeignet.
Vollständige Applikationsbeschreibung: IC Testers Reliably Use Reed Relays

Funktion

• Hohe Zuverlässigkeit
• Ideale RF Eigenschaften
• Ideal, um schnelle digitale Impulse  von weniger als 20 Piko-Sekunden zu tragen
• Ideal, um RF Signale von bis zu 20 GHz zu tragen
• 50Ω Impedanz
• Kapazität <0.5 Piko-Farad
• Durchschlagfestigkeit 200 Volt
• Dynamisch getestete Kontakte
• Oberflächenmontierbar
• BGAs erhältlich
• Robuste Umspritzung