Pulsierte Hochstrom Testapplikationen verwenden Reedrelais

Einführung

Automatisierte Testgeräte (ATE), welche zum Testen von Halbleitern zum Einsatz kommen, erfordern eine Schalteinheit, die hochpulsierte Ströme tragen können, ohne die pulsierten Ströme  zu verfälschen. Diese pulsierten Ströme dienen der Verifikation, dass das zu testende Gerät  hohe und/oder Spitzenströme ohne Leistungsverlust verarbeiten kann. Der hohe Stromimpuls stellt sicher, dass der Chip ordnungsgemäß mit dem Trägermaterial verbunden ist. Außerdem sind hohe Spannungen nötig, um hohe Schaltspannungen abzuhalten. Durch den Einsatz von Reedrelais werden pulsierte Schaltvorgänge in Millionenhöhe erreicht

Vollständige Applikationsbeschreibung: Pulsed High Current Testing Applications use Reed Relays

Funktion

• Schaltvorgänge in Millionenhöhe
• Kleines Format
• Trägt pulsierte Ströme von bis zu  5 Ampere
• Schaltung von bis zu 1000 Volt möglich
• Durchschlagsfestigkeit von 3000 Volt
• Runde Anschlussbeine erhöhen die Haftung des Relais im Sockel
• Dynamisch getestete Kontakte